本發明公開了一種用于X射線閃爍體新型材料的成像特性定量檢測與綜合評價方法,具體針對新型鈣鈦礦基納米晶體材料,利用高亮度且能量連續可調的同步輻射X射線成像裝置,設計出一套實用、客觀、全面、準確的檢測光路,以及數據采集與處理、定量計算方法,有效實現了新材料用于X射線成像閃爍體綜合客觀評價目標。該檢測技術包括:檢測光路設計與搭建;新材料閃爍體的制備與安裝;高分辨數據采集與處理;新材料發光效率計算方法;采用圖像MTF函數與襯度噪聲比綜合評價成像分辨率和靈敏度等技術步驟。該新型檢測技術具有普適性,可用于不同能量X射線發光功能材料特性的綜合定量檢測與評價。
聲明:
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