本發明涉及一種測量計算Pb-Sn-Al層狀復合材料界面電阻率的方法,屬層狀塊體材料界面電阻率測算技術領域。假設有一個界面無接觸電阻且與待測材料具有相同形狀和橫截面積的Pb-Al材料參照體,通過四點共線探針法測量電阻法,測得被測體總電阻及Al、Pb基體材料電阻RAl和RPb,通過掃描電鏡微尺度標定技術,測得被測體的Pb基體寬度l’Pb、Al基體寬度lAl、單側界面寬度l界面和橫截面面積s,并計算出被測Pb-Sn-Al層狀復合塊體材料的Al、Pb基體的電阻率,通過公式,得出參照體電阻,再根據公式,計算獲得界面電阻率。具有操作方便,計算方法簡便易行,被測層狀復合塊體材料界面寬度可達到微米級以下等優點。
聲明:
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