本發明涉及一種復合材料密封件表面粗糙度檢測用光纖型零差干涉系統,包括待測密封件裝調定位模塊、光學干涉檢測模塊和密封件表面粗糙度信息提取模塊;所述待測密封件裝調定位模塊用于對待測密封件進行定位和調節,使得所述光學干涉檢測模塊能夠檢測到待測密封件上的各個測量點;所述光學干涉檢測模塊用于對待測密封件上的各個測量點進行檢測,以得到攜帶有待測密封件表面粗糙度特征信息;所述密封件表面粗糙度信息提取模塊用于提取待測密封件表面粗糙度特征信息,以獲得待測密封件表面的粗糙度分布情況及其微觀形貌圖。本發明降低了系統的復雜程度和調試難度,更有利于復合材料密封件的質量監控。
聲明:
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