本發明屬于光電測試技術領域,具體是一種光波偏振態高速靜態測量裝置及測量方法。本發明要克服現有技術需要機械轉動、結構復雜或者難以實現高速測量的缺陷和不足。所采用的技術方案如下:一種光波偏振態高速靜態測量裝置,包括沿x軸順序排列的鈮酸鋰晶體、偏振片、光強探測器和外加電壓控制系統;所述鈮酸鋰晶體利用的是其橫向電光效應;所述偏振片端面垂直于待測光線傳播方向,偏振片的透振方向與y軸夾角可調;所述光強探測器的光強接收面垂直于x軸;外加電壓控制系統對施加在z軸方向的電壓進行控制。本發明適用于光纖通訊偏振態檢測控制以及對設備的機械穩定性要求高的衛星或飛機等空間基平臺對目標光束進行偏振探測的技術領域。
聲明:
“光波偏振態高速靜態測量裝置及測量方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)