本發明公開了一種缺陷定位方法、裝置及存儲介質,其屬于鋰電池制備技術領域,缺陷定位方法具體為先根據缺陷識別記錄確定缺陷位置與第一預設位置在極片長度方向上的第一缺陷距離;測量極片的厚度及卷筒的外半徑;將所述第一缺陷距離、所述極片的厚度及所述卷筒的外半徑代入指定公式中,通過計算和轉換確定缺陷位置。本發明提供的缺陷定位方法、裝置及存儲介質能夠解決CCD設備漏打標的問題,使得能夠較精準計算缺陷位置,進行手動補標,其操作方法簡單、實用性強。
聲明:
“缺陷定位方法、裝置及存儲介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)