陜西有色金屬無損檢測設備

（霍爾）遷移率 1747     

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設備主要利用微波測試原理，非接觸式測量射頻HEMT結構半導體材料的方阻、遷移率及載流子濃度?？蓪崿F單點測試， 亦可以實現面掃描的測試功能，具有快速，無損，準確等優勢，可用于材料研發及工藝的監測及質量控制。 特點 適用于遷移率量測范圍在100cm2/V ? s～3000cm2/V ? s 的射頻HEMT外延片。非接觸，非損傷測試，具有測試速度快， 重復性佳，測試敏感性高，可以直接測試產品片等優點。

方阻(電阻率)測試儀(片與錠） 1757     

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設備主要利用渦電流測試原理，非接觸測試半導體材料，石墨烯，透明導電膜，碳納米管，金屬等材料的方阻（電阻率）。 可實現單點測試，亦可以實現面掃描的測試功能，可用于材料研發及工藝的監測及質量控制。 本儀器為非接觸，非損傷測試，具有測試速度快，重復性佳，測試敏感性高，可以直接測試產品片。

非接觸式無損檢測設備 1620     

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非接觸式無損方塊電阻測試儀、晶圓方阻測試儀、方阻測試儀、硅片電阻率測試儀、渦流法高低電阻率分析儀、晶錠電阻率分析儀、渦流法電阻率探頭和PN探頭測試儀、遷移率(霍爾)測試儀、少子壽命測試儀,晶圓、硅片厚度測試儀、表面光電壓儀JPV\SPV.汞CV. ECV。為碳化硅、硅片、氮化鎵、襯底和外延廠商提供測試和解決方案。 憑借技術和豐富的產品設計經驗，申請各項知識產權17余項,已發展成為中國大陸少數具有一定競爭力的半導體專用設備提供商，產品得到眾多國內外主流半導體廠商的認可，并取得良好的市場口碑。