北京北京有色金屬分析檢測設備

XL2 手持式礦石光譜分析儀 2379     

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將礦樣送至遠離現場的實驗室檢測，不但費時費力、成本昂貴，對于偏遠的地方，這樣做也是不切實際的?，F在，有了尼通手持式礦石分析儀，您的礦物元素分析工作就可以變得格外簡單。對于礦業公司來說，賽默飛世爾尼通都可以為您提供一款既節省成本又非?？焖俚默F場XRF分析儀器，它重量輕、精度高，性能可靠，可廣泛應用于勘探開采過程中各階段的礦樣成分分析。

XL5 Plus手持式礦石光譜分析儀 2395     

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將礦樣送至遠離現場的實驗室檢測，不但費時費力、成本昂貴，對于偏遠的地方，這樣做也是不切實際的?，F在，有了尼通手持式礦石分析儀，您的礦物元素分析工作就可以變得格外簡單。對于礦業公司來說，賽默飛世爾尼通都可以為您提供一款既節省成本又非?？焖俚默F場XRF分析儀器，它重量輕、精度高，性能可靠，可廣泛應用于勘探開采過程中各階段的礦樣成分分析。XL5Plus手持式礦石分析儀，將手持式X熒光技術與現代工業測試需求相結合。

XL3t 手持式礦石光譜分析儀 2157     

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對于礦產勘探開采行業來說，礦業公司進行決策時很多時候要依賴于已有的礦體模型、公司經驗與技術。但要充分挖掘礦山價值、制定好的開采決策，這些是遠遠不夠的。對礦山價值的利用，有一個關鍵前提：即需要即時獲取可靠的地球化學數據，以快速描繪出礦體邊界。此外，精確的礦山圖繪制及礦石品位控制也需要對礦樣的元素含量作定量分析。將礦樣送至遠離現場的實驗室檢測，不但費時費力、成本昂貴，對于偏遠的地方，這樣做也是不切實際的?，F在，有了尼通手持式礦石分析儀，您的礦物元素分析工作就可以變得格外簡單。

XL2 Plus手持式XRF光譜分析儀 2631     

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Niton XL2 Plus 旨在提供快速分析和低檢測限，確保獲得可靠結果。Niton XL2 Plus 通過專有2W x- 射線管、動態電流調節和新一代硅漂移探測器為每次測量提供很好的靈敏度。Niton XL2 Plus 通過智能基本參數法（FP）校正樣品基質效應以獲得準確結果。

XL2 100G手持式合金光譜分析儀 2038     

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在廢舊合金回收，機械加工等行業，能夠肉眼區分辨別的合金材料種類有限。針對這些低附加值行業中常規合金牌號材料的鑒別區分，尼通推出了具有競爭力的XL2 100G 手持式X熒光光譜儀，該機具有經濟實用、快速、機體耐用和傻瓜型易用的優點。

XL3t 手持式合金光譜分析儀 1687     

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XL3t在原有XL2型基礎上增加了選配的小點測試和內置CCD攝像頭對焦功能，可采用1mm光路準直系統針對焊點，焊縫等小測試區域進行針對性測試。

XL2 手持式合金光譜分析儀 1688     

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在質量控制、材料分類、合金鑒別、安全防范、事故調查等現場應用領域中，合金牌號鑒別、金屬成分快速分析，對實驗室分析來說是一項挑戰?，F在，這一切發生了根本性的變化，賽默飛Niton——正在引發一場元素分析領域的革命：快速精確的分析結果，昂貴分析成本的大幅降低，重大決策的快速制定，均可在扣動尼通XRF分析儀扳機的剎那間輕松實現。 ??

XL5Plus手持式合金光譜分析儀 1673     

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合金成分和牌號的檢驗對于回收站、金屬材料加工廠和金屬質量管理等極為重要。檢驗員通常要在充滿挑戰的工作環境中快速精確確定各種類型的金屬材料的分和牌號。 XL5Plus手持式合金分析儀，將手持式X熒光技術與現代工業測試需求相結合。 賽默飛世爾（Thermo Fisher Scientific），原稱美國熱電集團，尼通(Niton)是其旗下品牌。作為手持式X射線熒光（XRF）分析儀器制造行業的佼佼者。尼通新發布的XL5Plus系合金分析儀加入人性化設計，具有小巧，快速，精準，穩定的設計。

FAS 2100手持式X射線熒光光譜儀 2242     

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FAS 2100手持式X射線熒光光譜儀是朗鐸科技精湛的元素檢測技藝與客戶利益的精準結合，開創了檢驗級手持式光譜儀人工智能發展的新方向。朗鐸科技與國外光電子研究機構聯合研發，在國際XRF領域掀起了一波新的數字革命浪潮。

FASO 智能在線成分光譜分析儀 1593     

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客戶通過光譜儀手動/自動檢測樣品，數據會自動上傳到分析儀，分析儀處理分析數據，根據事先設定的程序，發送I/O指令，聯動其他設備完成檢測。注：自動檢測、設備聯動，需要其他設備配合。

Niton Apollo手持激光誘導擊穿光譜(LIBS)分析儀 1944     

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發現Thermo Scientific? Niton? Apollo? 手持式 LIBS分析儀。設計幫助您克服棘手的分析挑戰，Niton Apollo 是專門測量碳含量的實用、便攜式設備。在激光誘導擊穿光譜 (LIBS) 的驅動下，Niton Apollo 提供了非?？斓乃俣?、行業內較高水平的性能，提高了生產效率。它將實驗室分析方法帶到現場并帶來了巨大可能性。

Axia ChemiSEM 2641     

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歐波同成立于2003年，是一家國內領先的實驗室定制化場景式智能解決方案服務商。在持續創新創業的過程中，歐波同集團始終堅持“讓實驗更簡單”的發展主線，不斷完善在工業領域能夠提供的全方位技術服務。歐波同始終堅持以技術服務為核心，不斷發展成為引領工業分析行業的高新技術企業。旗下擁有科學儀器銷售、智能實驗室解決方案、第三方檢測服務、技術服務等業務板塊。

XNDT-101鑄造件缺陷在線檢測機 4316     

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XNDT-101主要由X射線源、線陣探測器、傳動系統和主機電腦組成，實現對鑄造件內部缺陷的在線檢測。

XNDT-102 便攜式探傷儀 3618     

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XNDT-102便攜式成像系統由1個探測器盒、1臺便攜式射線源和1臺筆記本電腦組成，可用于公共安全場合的包裹安全檢查、工業無損檢測等。

XNDT-103異物在線檢測機 4921     

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XNDT-103主要由X射線源、線陣探測器、傳動系統和主機電腦組成，并提供一組繼電器輸出信號，用于剔除不合格產品。廣泛用于食品、服裝、鞋類、再生資源回收等行業的異物檢測。

場發射透射電子顯微鏡 3620     

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JEM-2100F 應用廣泛，從材料科學、生命科學、醫療、制藥、半導體到納米技術。 利用200KV場發射透射電鏡JEM-2100F，不僅可實現超高分辨率圖像的觀察，同時，還可以得到納米尺度的結構、成分等信息。 高亮度的場發射電子槍，輕松實現各種分析功能。

紅外光譜儀 3091     

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傅立葉變換紅外光譜儀能在最短的時間內分析具有挑戰性的樣品，提供最完善的解決方案。分析實驗室對能夠高效完成原材料和最終產品的分析任務的儀器的需求與日俱增尼高力 NICOLET IS10傅立葉變換紅外光譜儀顯著簡化了傳統傅立葉變換紅外光譜儀的數據分析，樣品采集和儀器驗證環節，成為完成這類分析任務的一種較好的選擇為確保儀器性能而設計系統性能確認（SP）是一個確保光譜儀長期穩定運行的有力工具。

熱重分析儀 3275     

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STA 449 F3 JUPITER 包含TG與DSC測試系統。具有如下顯著優點：消除稱重量、樣品均勻性、升溫速率、氣氛壓力與流量差異等因素影響，TG與DTA/DSC曲線對應性更佳。同步熱分析儀根據某一熱效應是否對應質量變化，有助于判別該熱效應所對應的物化過程（如區分熔融峰、結晶峰、相變峰與分解峰、氧化峰等）。同步熱分析儀在反應溫度處知道樣品的當前實際質量，有利于反應熱焓的準確計算。

紫外可見近紅外分光光度計 3055     

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島津UV－3600是世界領先的高性能的紫外可見近紅外分光光度計，性能卓越。紫外可見分光光度計是每個化學分析實驗室必備的常用儀器設備之一，在各種定量和定性分析中得到了廣泛的應用。島津的紫外可見分光光度計產品線非常豐富，從最普通的單光束分光光度計到測量范圍可以擴展到深紫外、近紅外區域的UV－VIS－NIR分光光度計。

球差電鏡測試 2896     

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JEM-ARM200F差校正透射電鏡，擁有STEM-HAADF像分辨率（63PM）,標配了掃描透射環形明場(STEM-ABF)成像模式。對樣品在納米尺度的精細結構和化學成份進行高水平表征檢測。用于納米科學、材料科學、生命科學等領域的科研項目。

工業CT 2922     

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XRADIA CONTEXT MICROCT，是一款大觀察視野、無損 3D X射線微焦點計算斷層掃描系統?？蓾M足多種 3D 表征和檢測需求的成像解決方案，不僅能夠在3D全景中展示完整大樣品的內部細節，還能針對小樣品使用大的幾何放大倍數實現高分辨率和高襯度成像觀察細節特征。XRADIA CONTEXT 建立在歷經考驗的蔡司XRADIA平臺之上，圖像質量、穩定性和易用性均屬上乘，且具備高效的工作流環境和高通量掃描功能。

差示掃描量熱儀 3357     

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耐馳差示掃描量熱儀DSC214對于日常的 DSC 測試提供了強有力的解決方案，并在硬件與軟件方面作了極大的改進。儀器在易于操作的同時提供了的可靠性，使得這款儀器成為包括聚合物工業在內的諸多行業進行產品研發，質量控制與失效分析的理想工具。

洛氏硬度計 2857     

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洛氏硬度計是世界上第一臺依據洛氏硬度試驗原理設計的，只需要單側接觸試樣就可測試金屬硬度的洛氏硬度計，依靠磁力將洛氏硬度計測頭吸附在鋼鐵表面，不需要對試樣進行支撐，測試精度符合標準GB/T230、ISO6508，不低于臺式洛氏硬度計。利用磁力吸盤將硬度計固定在鋼鐵工件表面，無需支撐，無需取樣，不用移動 工件，只要單側接觸即可完成測試。

數顯顯微維氏硬度計 2438     

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HVS-50型數顯維氏硬度計是光機電一體化的高新技術產品，具有良好的可靠性，可操作性，是小負荷維氏硬度計的升級換代產品。

X射線熒光光譜儀 3634     

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ARL ADVANT X 是一臺靈活、高性能的順序式 XRF 光譜儀，可分析周期表中多達84種元素?？蛇x四種功率（從 1200W 至 4200W ），不僅能優化性能還可優化日常和苛刻應用的操作成本。X 射線熒光光譜儀 （XRF） 分析是一項應用廣泛的分析技術，可利用簡易的樣品制備和無損分析，對各種固體和液體樣品進行元素分析。

X射線光電子能譜儀 2977     

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ESCALAB 250XI X射線光電子能譜儀是一臺多功能高性能的表面分析儀器，它可以用于研究各種固體材料樣品表面（1-10NM厚度）的元素種類、化學價態以及相對含量。結合離子刻蝕技術還可以獲得元素及化學態深度分布信息；通過成像技術可以獲得元素及化學態的面分布信息；利用微聚焦X射線源或電子束可以獲得微區表面信息。

電子探針顯微鏡（EPMA） 3653     

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日本電子 JXA-8230電子探針顯微鏡分析儀可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀X射線探測器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環境。日本電子新開發出的EPMA （電子探針）秉承近半個世紀的EPMA的發展歷史，JXA-8230具備用戶友好的操作、通過新式簡單易用的PC 用戶界面提供完整范圍的高精度、快速分析，這是JEOL長年來對高可靠性硬件不斷改良的結果。JXA-8230電子探針是能完全滿足多種需求的強力分析工具之一。

激光粒度儀（粒度/zeta） 2369     

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ZETASIZER NANO ZS90 ZETA電位分析儀是一款高性價比的分子/粒度和ZETA電位分析儀。使用動態光散射以90度散射角測量顆粒和分子粒度，具有使用激光多普勒微電泳測量ZETA電位和電泳遷移率的能力，以及使用靜態光散射測量分子量。動態光散射檢測由于顆粒布朗運動而產生的散射光的波動隨時間的變化。檢測器將散射光信號轉化為電流信號，再通過數字相關器的運算處理，得到顆粒在溶液中擴散的速度信息，即擴散系數。通過STOCKES-EINSTEIN方程可以得到粒徑大小及其分布。

等離子聚焦離子束系統 2635     

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蔡司雙束電鏡CROSSBEAM系列，是專為高通量3D分析和樣品加工制備量身打造的FIB-SEM雙束電鏡。CROSSBEAM系列將場發射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)鏡筒強大的成像和分析性能與全新一代聚焦離子束(FIB)出色的加工能力相結合。無論是加工、成像或進行3D分析，都能在不損失精度的前提下，提高聚焦離子束的應用效率。

X射線衍射儀 2886     

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X射線衍射儀，采用創造性的達芬奇設計，通過TWIN-TWIN光路設計，成功實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換，而無需對光。通過TWIST TUBE技術，使用戶可以在1分鐘內完成從線光源應用（常規粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到點光源應用（織構、應力、微區）的切換，讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為歷史！