JES-2000手持式合金分析光譜儀是一款高性能、便攜式的現場檢測設備,專為快速、無損、準確地檢測合金牌號和元素成分而設計。其重量僅1.4kg(含電池1.5kg),尺寸為300mm×90mm×220mm,便于攜帶和操作。該設備采用高性能Si-Pin探測器,具備高檢測精度,能在2-3秒內顯示合金牌號、元素及百分比含量。它配備50KV、100mA、4W的X射線管,確保低檢測下限和輻射安全,并通過智能光束技術實現對鈦、釩等元素的高精度檢測,區分不同合金等級。
JCS-100S高頻紅外碳硫分析儀是一款高性能的分析設備,主要用于測定材料中的碳和硫含量。它具備極寬的分析范圍,碳的檢測范圍為0.00001%~20%(可擴展至99.99%),硫的檢測范圍為0.00001%~5%(同樣可擴展至99.99%),靈敏度高達0.00001%,能夠滿足高精度檢測需求。該設備的分析精度出色,碳的檢測精度為1ppm或RSD≤0.5%,硫的檢測精度為1ppm或RSD≤1.0%,均優于相關國際標準(碳優于ISO9556-94標準,硫優于ISO4935-94標準)。其分析時間短,僅需20~40秒即可完成自動控制分析過程。
X射線實時成像檢測系統可用于對各類金屬鑄件、汽車零部件、焊接件、塑料制品、橡膠制品、耐火材料、樹脂材料、復合材料和陶瓷體等各種產品進行在線式無損檢測。該系統適用于軍工、航空、航天、裝備制造、電子、汽車、高鐵等行業。
S3直讀光譜儀是意大利GNR公司推出的一款高性能全譜直讀光譜儀,采用多項領先技術,如串行讀出系統設計和TRS火花激發,確保了優異的分析性能和極高的性價比。該儀器覆蓋了從130nm到800nm的全譜范圍,配備高分辨率CMOS檢測器和3600條/mm的高精度光柵,能夠滿足絕大多數金屬檢測需求,包括鑄鐵、鋁合金、不銹鋼、鋅合金等多種材料。其檢測精度高,尤其在紫外區元素(如P、S、B)的測量上表現出色。此外,S3還具備智能單點校準和波長實時校準功能,可有效應對漂移,確保測量結果的穩定性和準確性。
GNR ProSpector手持式X射線熒光光譜儀采用了最先進的X射線光管控制技術及最領先的探測器數據讀出系統,每秒可接受的X射線光子數突破了X射線熒光光譜儀可接受的上限,因此儀器可獲得非常精準的檢測結果。同時,由于可接受到的X射線光強度更高,一些難以檢測的輕元素可以得到更低的檢出限以及更準確的結果。
FET-3X3型金屬電導率儀是一款便攜式、高性能的檢測設備,專為有色金屬材料的電導率和電阻率測量設計。它采用大屏幕顯示,可同時呈現測試結果、頻率、溫度等重要參數,支持0.51~112% IACS或0.3~65 MS/m的寬測量范圍,覆蓋所有常見有色金屬。設備具備60 kHz和500 kHz兩種工作頻率,分別適用于航空工業標準和薄板材料檢測。其直徑8mm和14mm的探頭設計,結合曲率校準功能和∧型探頭套,能夠靈活應對大小工件及曲面材料檢測。
ORTEC α譜儀系列包括Alpha AriaTM,單NIM寬; Alpha DuoTM緊湊的雙路臺式系統;模塊式2, 4, 6或8通道Alpha EnsembleTM。Alpha Ensemble可以直接放在桌面上也可以裝配在19英寸的支架中。Alpha Duo模塊的每個通道都裝有真空計;可調探測器偏壓(正或負);前置放大器;幅度可調的測試脈沖發生器;漏電流監測器。每個通道都有各自的數字穩譜和增益轉換設置。各探測器可獨立工作,探測范圍0~10MeV可調。脈沖發生器幅度調節范圍也為0~10MeV。探測器偏壓0~±100V可調。硬件控制,數據獲取,探測器偏壓,漏電流全都通過軟件顯示和控制。
材料的熱物理性質以及最終產品的導熱優化在各種工業應用領域變得越來越重要。經過幾十年的發展,在測量各種固體、粉末和液體熱導率和熱擴散系數中閃射法已經成為最常用的測量方法。Linseis LFA 1000激光導熱系數測試儀采用模塊化設計的最精密的熱擴散系數,熱導率和比熱的測量儀器??赏瑫r測量6個樣品??梢赃x用多種不同的樣品架,適用于固體,液體,熔體和爐渣。緊湊的設計使得硬件和電子元件分離,安裝一個外罩后可以適應于核應用。采用自主設計的樣品池,實現了液體樣品導熱系數/熱擴散系數的測量。
石墨中水分含量測試設備:性能指標:分析天平:檢定精度:0.001g;測量范圍:0-120g;電熱恒溫鼓風干燥箱:溫度波動 ± 1 ℃;控溫范圍 :50-300℃;
石墨中體積密度含量測試設備:分別采用天平和外徑千分尺測量烘干后石墨樣品的質量和體積;根據體積密度公式計算得出石墨的體積密度。
STA449F3可同時進行熱重分析(TG)和差示掃描量熱分析(DSC),擁有最高的靈敏度與最佳的重復性,用于反應/轉變溫度與熱焓,以及比熱的測量。STA449F3與氣體分析系統QMS 403 Aёolos ?質譜儀聯用,使用熱質聯用技術,在同一次測量中除檢測樣品的重量變化與熱效應之外,還可同時對逸出氣體進行鑒別和定量分析。
紅外光譜對樣品的適用性相當廣泛,固態、液態或氣態樣品都能應用,無機、有機、高分子化合物都可檢測。此外,紅外光譜還具有測試迅速,操作方便,重復性好,靈敏度高,試樣用量少,儀器結構簡單等特點,因此,它已成為現代結構化學和分析化學最常用和不可缺少的工具。Frontier是PE公司一款高端紅外光譜儀,使用該儀器不僅可以獲得中紅外光譜,還可以獲得近紅外光譜,輔以ART附件,可以實現固體樣品的快速測定,免除了先前通過溴化鉀等壓片的繁瑣步驟。另外,通過我們自己設計的加熱爐和樣品池,實現了高達600℃溫度液態樣品的檢測。
X射線衍射儀主要測試功能包括X射線粉末衍射、掠入射衍射及高溫(~1200℃)條件下的X射線衍射,能夠提供粉末、塊狀、液態的多晶樣品的常規物相分析和半定量分析,晶胞參數的測定、修正、未知多晶樣品的X射線衍射指標化、晶粒尺寸和結晶度測定。還可對材料的殘余應力、織構及薄膜反射率進行測試和分析。配備的LynxEye XE陣列探測器共由192個子探測器陣列組成,具有優異的分辨率及信噪比;探測效率是普通閃爍探測器的10倍以上,普通樣品可在7分鐘左右測試完成;具有優異的能量分辨率,無需單色器,即可有效去除含鐵樣品的熒光。
飛行時間——二次離子質譜儀(TOF-SIMS)采用質譜技術分析材料表面原子層以確定表面元素組成和分子結構。其工作原理是樣品表面被高能聚焦的一次離子轟擊時,一次離子注入被分析樣品,把動能傳遞給固體原子,通過層疊碰撞,引起中性粒子和帶正負電荷的二次離子發生濺射,再通過測量不同二次離子的飛行時間測量它們的質量/荷質比,對被轟擊的樣品的表面和內部元素分布特征進行分析。二次離子質譜可以分析包括氫在內的全部元素,并能給出同位素的信息、分析化合物組分和分子構成,靈敏度好、質量分辨率高、可測量的分子量范圍大
電子探針(EPMA)是用極細的電子束對樣品表面進行照射產生特征性X射線,對特征性X射線進行分光和強度測定,得到微小區域的元素組成及樣品表面元素濃度分布的分析裝置。EPMA 采用波長色散型X 射線分光器(WDS),與能量色散型X 射線分光器(EDS)相比,具有高分辨率的特點。本實驗室裝備有日本島津公司生產的EPMA-1720電子探針顯微分析儀,配備4道波譜儀,同時配備AZtec X-Max 80牛津能譜儀,可對試樣進行微小區域成分分析,可對5B~92U范圍的元素進行定性和定量分析。
SPECTROMAXx的直讀光譜儀的一個顯著特點是用于測定金屬行業要分析的化學元素,包括:碳 ( C ),磷 ( P ),硫 ( S ),特別是能實現氮 ( N )元素的分析。配有完備的工作曲線校正模塊,具備同時進行十種不同基體分析的能力,如:Fe,AI,Cu,Ni,Co,Ti,Mg,Zn,Pb,Sn等。覆蓋了全元素分析范圍,可根據具體需要分析相應的元素。SPECTROMAXx應用范圍非常廣泛,適合壓鑄、熔儔,鋼鐵或有色金屬行業的爐前金屬分析要求,進、出廠材料檢驗經及汽車、機械制造等行業的金屬材料分析。
Nu AttoM 是高分辨率等離子體質譜儀,分辨率最大到10000以上,且連續可調,從而保持最大的靈敏度,很好的分離干擾因素。Nu AttoM 采用了快速掃描技術,克服了常規高分辨率ICP-MS掃描速度慢的缺點,非常適合和激光燒蝕系統(LA)連接使用進行原位同位素研究,可提高同位素比值的精度。真空系統穩定可靠,背景超低。
Spectra Arcos不同于傳統的ICP光譜儀,采用帕邢-龍格CCD光學系統,可獲得8.5pm的分辨率;采用專利的遠紫外區UV-Plus光學系統,光室無須吹掃或真空,開機即可使用;采用帶陶瓷功率管的新型自激式固態發生器和電源,高光通量的真空紫外光室波長達130nm,數據讀出系統的動態范圍達8個數量級,瞬間測量頻率達10Hz;專利的智能邏輯校正(ICAL)系統可持續監控儀器的工作狀況并自動校準,確保儀器在最佳狀態下運行;可分析包括ppm級鹵素在內的73個金屬和非金屬元素。
利用SPM系統,可綜合采用PIXE、PIGE、ERD、RBS等離子束分析方法,實現多種元素成份分析;可測定微區元素分布??梢杂糜诓牧?、生物醫學、環境、地質樣品的多種微量化學元素成份和微區結構的無損分析。
該分析系統是一個集成了水分析儀(DF745)、氧分析儀(DF310)與氣路切換盤(標氣、零級純化氣、樣品氣)、數據記錄儀等輔助測量配件的有機體。DF745微量水分析儀基于朗伯-比爾定律,采用可調諧二極管激光吸收光譜法可檢測0-20ppm范圍內惰性氣體中的水含量,其檢測限可達到2ppb。DF310E采用非消耗性的庫倫電化學傳感器,可檢測0-100ppm范圍內惰性氣體中氧含量,其檢測限可達到50ppb。