本實用新型公開了一種基本機電阻抗的金剛石裂紋探測系統,該采用機電阻抗的金剛石裂紋探測系統包括支架上設有軟質紙,軟質紙上放置待測試金剛石,待測試金剛石上放置壓電陶瓷,壓電陶瓷通過電線連接到阻抗分析儀,阻抗分析儀通過數據線連接到接口板,接口板通過數據線連接到電腦。通過上述方式,本實用新型將機械阻抗表示為各種激振,通過阻抗分析儀,分析內部裂紋情況;通過電阻抗類比機械阻抗,通過電信號的變化,分析機械結構內部的變化;實現了無損探傷。
本實用新型涉及一種旋轉式上蓋麥克風性能測試治具,包括底座和連接在底座上的上蓋,所述底座的上底面上設置有用于放入被測產品的卡槽,所述上蓋通過轉軸轉動連接在底座的上底面上,該轉軸與上蓋和底座的上底面垂直設置,所述上蓋沿著轉軸的軸向轉動。本實用新型提供了一種確保產品測試結果精確、且對產品無損害的旋轉式上蓋麥克風性能測試治具。
本發明公開了一種對物體中的成分及其濃度進行探測的方法,其具體步驟為:1)將待測樣品放置在樣品臺上,由激光誘導擊穿光譜儀對物體進行非接觸式無損探測;2)探測時,由旋轉驅動裝置驅動樣品臺作均速圓周運動或者由平移驅動裝置驅動樣品臺作均速平移運動;此時,由激光器產生激光,經過聚焦透鏡聚焦后、自下而上穿過樣品臺上的激光照射孔對待測樣品進行照射;待測樣品的被測表面在激光的照射下產生等離子火花,等離子火花信號經過信號耦合透鏡耦合至光纖光譜儀中,通過分析光纖光譜儀接收到的等離子火花信號就可得到物體中所含的成分及其濃度。本發明所述對物體中的成分及其濃度進行探測的方法尤其適用于對鍍層、鋁箔等厚度較薄的樣品的探測。
本發明提供一種芯片的供電測試治具,包括:芯片底座,所述芯片底座上設有多個芯片限位槽和芯片限位擋臺,所述芯片限位槽與芯片限位擋臺連接,所述芯片限位槽內設有芯片,所述芯片限位槽和所述芯片限位擋臺相互配合對芯片進行限位,所述芯片上設有電路板,且所述芯片與所述電路板可拆卸式電連接以能夠實現對芯片的供電測試;這樣不僅在芯片的供電測試過程中實現了對芯片的無損限位,更避免了在測試過程中探針對芯片表面焊盤測試定位難和劃傷芯片表面焊盤的技術問題,提高了生產效率的同時還降低了生產成本。
一種刀具形狀測量裝置,包括直線軸、底板、安裝底座、精密旋轉軸、光學鏡頭、CCD相機和二維調節平臺,直線軸安裝在底板上,所述的精密旋轉軸安裝在直線軸上,刀具被精密旋轉軸夾住,所述的光學鏡頭和CCD相機位于刀具正上方,二維調節平臺位于刀具的下方、通過安裝底座固定在底板上。本發明確保了夾持刀具在測量過程中夾持牢靠、運動精度高的工作穩定性,相比于傳動采用人工抓取刀具進行測量的原始方法,本發明可實現測量過程無人工干預,并始終確保針對同一個規格刀具夾持的接觸力,確保測量過程對刀具自身無損傷,完全避免了人為因素導致測量精度難以提高的問題,為實現刀具形狀自動化測量提供了方案。
本發明公開了一種小型簡易光學間距非接觸低相干測量裝置,其特征在于,包括箱體、計算機、測量臂以及設置在所述箱體內部的光纖干涉探測盒、掃頻光源、指示光源和參考臂;所述光纖干涉探測盒內設置有光纖耦合器、環形器、波分復用器和平衡探測器;所述參考臂包括第一準直器、反射鏡以及用于安裝所述反射鏡且可對所述反射鏡的位置進行調節的反射鏡安裝座,所述測量臂包括第二準直器和待測樣品;本發明可用于小型光學表面間距非接觸測量,具有結構簡單緊湊、易于調整組裝、便于移動、測量無損傷等優點;本發明通過反射鏡安裝座,能實現反射鏡的位置的方便調節,以保證從反射鏡返回的光線能再次進入第一準直器,方便裝置的光路調節。
本實用新型公開了一種用于超導帶材XRD織構測量的樣品固定裝置,包括真空吸盤,真空泵,以及連通所述真空吸盤和所述真空泵的真空管路,所述真空吸盤包括上表面作為樣品安裝面的真空腔體,若干個開口設于所述真空腔體上表面并與所述真空腔體內部連通的毛細孔,以及設于所述真空腔體側壁上并用于連通所述真空管路和所述真空腔體的抽真空接口,所述真空腔體通過固定裝置固定于XRD樣品臺上;其優點在于,作為一個單獨的部件,可直接用于現有的XRD織構測量儀器上,擴展現有XRD織構測量儀器的功能使之可以測量很薄且易變形的超導帶材樣品,能夠提高對超導帶材XRD織構測量的精確度和重復性,大大降低了工作的難度,提高測量效率,而且測試樣品可無損回收。
本發明公開了一種腳手架安全監測及預警的方法,首先,通過對腳手架進行易損性分析,找出容易發生損傷的區域作為監測區域,在各監測區域的周圍布置聲發射傳感器陣列;利用聲發射傳感器陣列采集腳手架發生聲發射事件時的聲發射信號,并轉換電信號輸出給信號采集系統;通過分析監測區域不同的聲發射傳感器采集同一聲發射事件的時間差,結合已知的彈性波在鋼結構中的傳播速度,推算出聲發射事件產生的位置?;谏鲜龇椒?,本發明能夠實現利用較少傳感器對整個腳手架進行無損傷監測及預警,并有效解決腳手架損傷監測定位不準、成本高的問題。本發明易于在建筑工程中腳手架的使用及拆除階段大量推廣使用。
本實用新型公開了一種閥門零件用水壓測試裝置,包括測試座,測試座上并排設有若干與各待測類零件相適配的插接頭,并連接有水平位于插接頭上方且可升降的傳動板,傳動板的底面上豎直連接有若干與插接頭相對應且可伸縮的連接桿,連接桿的另一端上設有壓塊,壓塊的底面上覆設有緩沖層,插接頭的外周上纏繞有防水膠帶、中部開設有豎直貫通的水通道,測試座內設有與水通道相連的水管,水管的兩端均伸出測試座,且出口端設有出水閥,進口端連通有蓄水箱,蓄水箱內設有增壓泵,水管在位于其進口端至水箱之間的區域上設有進水閥、泄壓閥和計時器。本實用新型解決了如何能一次性對閥門的各類待測零件進行便捷且無損地測試的技術問題。
本發明提供一種獲取模擬地震振動臺的位移變化的測量方法,包括搭建測量系統→標識非編碼點并進行圖像采集→圖像上非編碼點的空間坐標轉換→圖像上非編碼點的立體動態匹配→圖像上的非編碼點的序列匹配→圖像序列追蹤→三維重建→數據的顯示和輸出。本發明還提供一種匹配所述測量方法使用的測量系統。本發明利用光學原理來獲取結構上人工標識非編碼點的視頻圖像,然后基于數字圖像處理技術和相關算法對視頻圖像進行處理,實現測點位置的自動識別與匹配追蹤,從而得到測點的三維重建,獲取各測點的位移變化量,整個測量過程非接觸無損傷、測量精度高、自動化程度高、測量周期短,具有巨大的行業優勢和良好的推廣應用前景。
土體同步輻射X光旋轉三軸實時觀測方法,通過壓力源為三軸儀壓力室提供恒定圍壓并施加在壓力室內土體上;三軸儀壓力室內土體布置在同步輻射X光源下,三軸儀壓力室是通過控制步進電機運轉以加大或減少機械加載裝置傳動比,逐級增大或減少三軸儀壓力室的軸向壓力、給土體提供恒定圍壓的不同荷載,三軸儀壓力室繞壓力室圓筒軸心旋轉,同步輻射X光源實時無損地觀測土體三維細觀結構,獲得不同荷載作用下土樣內部細觀結構的X光斷層序列照片。本發明是對土樣細觀結構無損實時成像的新方法及其系統。
本發明提供了一種基于核磁共振測試石膏含水率的方法,包括以下步驟:對待測石膏樣品進行核磁共振測試,獲得核磁共振信號幅值;所述核磁共振測試的磁場強度≤1T;根據預定的標準曲線和所述信號幅值獲得石膏樣品中水的質量;根據石膏樣品中水的質量以及待測石膏樣品質量獲得石膏含水率;所述預定的標準曲線為石膏中水質量與信號幅值的線性關系曲線。本發明采用低場核磁共振方法(磁場強度≤1T),對石膏中的水分含量進行無損測定,從而判斷石膏的類型(無水石膏、半水石膏、二水石膏)。本發明提供的方法不需要對待測石膏樣品進行干燥,具有快速、無損的優勢,在石膏領域水分含量測定以及不同類型石膏的判定具有廣闊的應用前景。
本發明公開了一種表面為曲面的金屬表面硬化層深度的測量方法,其特征在于:采用光熱輻射測量法進行測量,分別獲得樣品在硬化前和硬化后的樣品表面溫度場的振幅和相位相對于調制光的頻率變化的測量值;然后進行自歸一化處理,得到對應于頻率值的歸一化的振幅和相位的值;再利用平面理論采用正向數值擬合算法擬合獲得熱導率隨深度變化的輪廓曲線;由熱導率輪廓曲線分析得出硬化深度。本發明通過熱物理性質深度輪廓的重建得到金屬樣品表面硬化層的深度,方便地實現了對表面為曲面的金屬樣品的表面硬化層厚度的無損測量。
一種真空玻璃傳熱性能測試裝置,屬于真空玻璃無損檢測技術領域,由真空玻璃、保護罩、隔熱層、正電極、銅板、電源、絕緣連接柱、負電極、熱電偶、支撐臺、電腦、數據采集器連接組成,利用銅板通電加熱,真空玻璃上層玻璃與下層玻璃的溫度差導致熱傳導現象,經溫度測量,數據采集,電腦處理,從而準確計算出真空玻璃的熱阻值,本發明裝置結構設計合理,成本低,操作簡單方法可靠,能夠準確地測出真空玻璃的溫度分布與熱阻值。
本實用新型公開了一種帶有防呆檔桿裝置的PCB板測試機,屬于PCB板測試設備領域。它包括由下而上依次設置的測試臺、治具底座、下治具、上治具、壓板和頂座,所述頂座內設有控制系統,所述壓板與所述頂座之間通過直線氣缸相連接,所述測試臺的一側設有PCB板放置臺,所述PCB板放置臺上設有防呆檔桿裝置,所述防呆檔桿裝置包括支架、氣缸、氣缸導桿和壓頭,所述支架與所述PCB板放置臺相連接,所述氣缸固定于支架上,所述壓頭與氣缸導桿相連接。本實用新型結構設計合理、操作簡便,避免了操作人員將有缺陷的產品放入無損區,且不會產生控制系統因為感應器沒有掃描而鎖定的情況,有效提高了PCB板的檢測效率和準確率。
本發明公開了一種精神醫學領域檢測和診斷受試者抑郁傾向程度的方法,特別涉及一種以近紅外耳額/顳穴透射信號監測抑郁的方法。它將一對近紅外波長的發射、接收管固定于被測試者的耳額/顳穴處,傳感器接收到的耳穴近紅外血氧信號經低通濾波、信號放大電路的處理后輸入計算機,先將得到的耳穴近紅外血氧信號進行DB3小波分析處理,得到腦額/顳區神經遞質總量的超低頻成份,再采用多重分形、LK壓縮等數據處理,提取腦額/顳區神經遞質非線性復雜度特征值,判斷受試者的抑郁傾向程度。該方法為無損監測,具有操作方便,準確率高的特點。
本發明屬于膠體檢測技術領域,涉及一種測定膠體穩定性及膠體粒子間碰撞強度的裝置和方法,該裝置包括控溫儀、樣品池、加液器和激光拉曼儀;所述樣品池放置于所述溫控儀上,樣品池包括池體、設置在所述池體頂部的透明窗口和連接在所述池體底部的硅片基板。本發明測定裝置結構簡單,操作簡便,基于SERS技術本身高靈敏度、無損、快速、可原位監測等優勢,可以動態實時地監測膠體的穩定性,并且具有通用性。同時,通過粒子單層膜單個“熱點”的拉曼強度與粒子間碰撞行為的關系定量分析膠體穩定性,其單個粒子間碰撞強度的計算方法新穎、簡單、快速。
本實用新型涉及無損檢測設備領域,具體的說是一種探測器保護冷卻裝置,一種探測器保護冷卻裝置,由頂板、底板、鉛板組成,所述頂板與底板以及中間的鉛板構成了長方體盒裝結構,頂板位于盒體頂部,底板位于盒體底部,鉛板在盒體的前后左右兩側,在右側鉛板上面設置有散熱風扇孔,在右側鉛板上面還設置有放線孔,在底板中間設置有一個小于底板的正方形探測窗口,在盒體內底板上安裝有成像板,通過增加散熱孔及散熱風扇設計,可以對探測器進行充分冷卻,保證探測器的工作溫度,延長探測器的使用壽命。
本發明公開了一種測量光刻膠掩模槽形結構參數的方法,其特征在于:采用TE/TM線偏振光為入射光,入射角為被測掩模的閃耀角,分別測量標準反射片的反射光的光譜分布D0(λ);被測掩模的反射衍射零級復色光的光譜分布D(λ);采用比較法,計算出介質膜光柵掩模實際的反射衍射零級的光譜分布Rg(λ),對其進行光譜反演,得到掩模的槽形參數:光刻膠的剩余厚度、槽深和占寬比。本發明實現了對于面積、重量均較大的待測掩模的槽形參數的無損檢測;且可以避免測量系統的誤差,對光譜儀測量系統以及光源沒有特別要求,測量方法簡單易行。
本發明公開一種用于生物識別模組的多壓力可調測試裝置,包括基座、左支撐板、右支撐板、水平橋板、至少一個水平載物臺和安裝于水平載物臺上的轉接板,基座表面平行設置有2個x向線軌;至少一個升降板位于水平橋板和水平載物臺之間,所述升降板上端開有倒T字形通孔,此倒T字形通孔由貫通的連通孔和矩形通孔組成,所述水平橋板上表面安裝有至少一個豎直氣缸;塑料腔體盒的腔體內分別設置有左氣缸、右氣缸和測試壓頭座,此測試壓頭座固定有用于檢測指紋模組電性能的測試壓頭,此測試壓頭伸出塑料腔體盒外部,所述掛板的上端面安裝有配重塊。本發明既實現了高效,也實現了有效的接觸,測試對產品無損傷,且測試數據可靠性和精度均高。
本發明公開了一種裂隙土體表面優勢流定量測試方法——紅外測優勢流,屬于巖土監測領域。裂隙土體表面優勢流包括裂隙中的純水流與裂隙附近的土孔隙水流;方法包括首先建立土體表面含水率與界面溫差的關系曲線,所述界面溫差為環境溫度與土體表面溫度間的溫度差;根據關系曲線確定所述土孔隙水流對應的界面特征溫差;之后通過實測界面溫差根據關系曲線反演含水率,通過含水率計算土孔隙水流,并將其與純水流加和得到裂隙土體表面優勢流流量。本發明能夠定量測定含裂隙土體表面裂隙優勢流,具有測量速度快、測量結果直觀、探測面積大以及易于實現自動化等優點,是一種新型的數字化無損檢測技術。
本申請公開了一種結構件自諧振頻率的測量方法和裝置,解決了結構件自諧振頻率和品質因數的檢測問題,所述方法包括將頻率連續變化的掃頻信號轉換為第一聲波;用所述第一聲波掃描所述結構件頂部;所述第一聲波透過所述結構件,在所述密閉空間內形成第二聲波;將所述第二聲波轉換為頻率信號;對所述頻率信號進行數據處理,得到所述自諧振頻率。所述裝置包括掃描信號發生器、揚聲器、吸音棉、拾音器、上位機。本發明解決了結構件批量來料的快速檢驗問題,重復性較好,精度高,且對表面鍍層無損傷。
本發明公開了一種熱障涂層壽命測算方法,包括:獲取用戶歷史使用數據,熱障涂層的部件結構信息,及部件的計劃使用工況;根據獲取的用戶歷史使用數據,熱障涂層的部件結構信息,及部件的計劃使用工況得到熱障涂層的壽命預測模型;測量熱障涂層的微觀結構損傷因子;通過測量的熱障涂層的微觀結構損傷因子修正壽命預測模型的擬合系數,得到修正后的壽命預測模型,得到熱障涂層壽命。采用熱障涂層無損檢測設備測量服役部件的裂紋分布與TGO層關鍵參數,該測量數據可以用于校驗與修正熱障涂層壽命預測算法和CFD邊界條件,提高了熱障涂層的使用壽命預測的準確性,實現了在部件服役期間對熱障涂層壽命的動態預測。
本發明的光纖分導式絲徑測量儀,是連續無損自 動測量紡織纖維如蠶絲的絲徑、檢驗均勻度、疵點的 儀器。本發明的光電采樣系統采用光纖分導式封閉 光路,具有優良的抗干擾能力;整個光電采樣系統的 元件裝置在一塊板塊上,儀器體積小,測試環境適應 性強;采用高輸入阻抗的放大電路,儀器的精度優于 10-3;有模擬顯示和微機處理打印機打印兩種顯示手 段,工作人員既能將測量儀方便地攜帶到現場測量, 又能方便地聯接微機、打印機進行工作。
本發明公開了一種基于光學相干斷層掃描成像技術測量涂層厚度及其應用,所述的方法包括以下步驟:搭建光學相干斷層掃描成像(OCT)測試系統;使用OCT系統對樣品材料進行深度方向和表面的二維橫截面進行掃描,并最終獲得被測對象的三維掃描圖;將所獲得的三維掃描圖進行降噪處理后,轉換成二進制圖像,之后采用邊緣跟蹤法分割涂層的上下邊界,計算涂層的厚度。所述的方法不僅能夠實現對涂層的無損自動檢測,而且該方法能夠實現快速、準確、大范圍的測量涂層的厚度??蓱糜跍y量薄膜涂層的厚度包括印刷電路板表面的三防漆、著色聚合物涂料、瓷器保護涂層、等離子噴涂陶瓷、生物可降解復合涂層、清漆涂層、透明或半透明藥片薄膜涂層。
一種研磨棒形狀測量用精密旋轉軸,內部結構采用模塊化設計方法設計,包括安裝底座模塊、驅動模塊和研磨棒夾持模塊。本發明解決了傳統研磨棒檢測方法過程中采用手拿或采取V型支撐夾持等方式裝夾研磨棒在測量過程中存在的顫動或抖動而影響測量精度的問題,確保了研磨棒在測量過程中夾持牢靠、運動精度高,無任何顫動或抖動,避免人為干擾,為在同一臺研磨棒測量設備中實現圓度、直徑等形狀參數的精密測量提供可能,相比于傳統方法,該精密旋轉軸可實現測量過程無人工干預,并始終確保針對同一個規格研磨棒夾持的接觸力,確保測量過程對研磨棒自身無損傷,為研磨棒全自動測量提供了專業夾持裝置的可行性解決方案。
本發明屬于物質分析技術領域,提供了一種液體在固體多孔介質中侵入深度的測定方法。本發明的測定方法包括:對待測樣品進行核磁共振一維譜測試,得到待測樣品的一維譜;從所述待測樣品的一維譜中得到待測樣品中液體在固體多孔介質中的侵入深度;所述核磁共振一維譜測試的序列為一維頻率編碼序列;所述待測樣品為液體侵入的固體多孔介質。本發明的測定方法進行測定時,不用破壞待測樣品,實現了無損檢測。同時,本發明的測定方法采用一維頻率編碼序列進行核磁共振一維譜圖測試,測試時間短,僅需3~5min;而且,測試時間短,避免了測試時間過長導致的液體在固體多孔介質中的進一步侵入導致的測試結果不準確,保證了測試精度。
一種研磨棒直徑測量用精密裝夾裝置,其內部結構采用模塊化設計方法設計,包括安裝底座模塊和研磨棒夾持模塊,本發明公開的研磨棒直徑測量用精密裝夾裝置,解決了傳統研磨棒檢測方法過程中采用手拿或采取V型支撐夾持等方式裝夾研磨棒在測量過程中存在的顫動或抖動而影響測量精度的問題,確保了研磨棒在測量過程中夾持牢靠、運動精度高,無任何顫動或抖動,避免人為干擾,為在同一臺研磨棒測量設備中實現圓度、直徑等形狀參數的精密測量提供可能,相比于傳統方法,該精密旋轉軸可實現測量過程無人工干預,并始終確保針對同一個規格研磨棒夾持的接觸力,確保測量過程對研磨棒自身無損傷,為研磨棒全自動測量提供了專業夾持裝置的可行性解決方案。
本發明涉及無損檢測技術領域,更具體的說是一種基于脈沖壓縮方法的電磁超聲在線監測系統,包括電磁超聲監測主機、監測網絡、云服務器和客戶端,所述電磁超聲監測主機通過脈沖壓縮對被測工件進行監測,電磁超聲監測主機和監測網絡通信連接,監測網絡和云服務器通信連接,客戶端和云服務器通信連接;根據被測工件的大小,電磁超聲監測主機通過強永磁鐵吸附和扎帶捆扎等可拆卸的方式安裝在被測工件上,其中的控制電路控制低壓脈沖壓縮電路激發低壓編碼脈沖串,電磁超聲換能器發射和接收低壓編碼電磁超聲信號;信號被采集后通過無線通信電路將數據發送給監測網絡,監測網絡將數據發送云服務器進行計算和分析,結果返回至客戶端進行顯示。
本實用新型公開了一種基于PCB組裝件的電流測試電路,其包括MCU主控芯片U1、與所述MCU主控芯片U1電連接的電壓采集電路以及與所述電壓采集電路電連接的電壓基準電路和DC?DC電源電路,所述電壓采集電路包括與所述MCU主控芯片U1電連接的運算放大器U2、與所述運算放大器U2電連接的互感器TA以及與所述互感器TA電連接的功率電阻R9,所述功率電阻R9電連接入待檢測的加熱器控制板電源輸出端。該基于PCB組裝件的電流測試電路,從硬件電路上實現MCU主控芯片采集大電流,有效檢測單板上的加熱模塊電路的焊接質量和加工中的元器件有無損壞。
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