權利要求書： 1.一種半導體元器件測試分揀設備，包括工作臺(1)和防護機構，其特征在于，所述工作臺(1)的頂部設有料筒(2)，所述料筒(2)的一側設有下料盤(3)，所述料筒(2)的底部固定連接有滑料道(20)；
所述防護機構包括兩個轉動桿(4)，兩個所述轉動桿(4)對稱轉動連接于滑料道(20)的兩側，兩個所述轉動桿(4)的對立面對稱轉動連接有安裝桿(5)，兩個所述安裝桿(5)之間固定連接有緩沖墊(6)。
2.根據權利要求1所述的一種半導體元器件測試分揀設備，其特征在于，所述料筒(2)的底部固定連接有倒T型支撐座(7)，所述倒T型支撐座(7)的底部與工作臺(1)的頂部固定連接，所述倒T型支撐座(7)的頂部開設有安裝槽，所述安裝槽的內壁與滑料道(20)的外壁固定連接。
3.根據權利要求1所述的一種半導體元器件測試分揀設備，其特征在于，所述下料盤(3)的底部設有驅動座(8)，所述驅動座(8)的底部與工作臺(1)的頂部固定連接，所述驅動座(8)的內部開設有驅動腔，所述驅動腔的內腔固定安裝有伺服電機(9)，所述伺服電機(9)的輸出端貫穿驅動腔內壁的頂部并與下料盤(3)的底部傳動連接。
4.根據權利要求1所述的一種半導體元器件測試分揀設備，其特征在于，所述下料盤(3)的頂部固定連接有固定環(10)，所述固定環(10)的外壁固定穿插連接有輸料通道(11)，所述輸料通道(11)的內腔固定安裝有傳送帶(12)。
5.根據權利要求4所述的一種半導體元器件測試分揀設備，其特征在于，所述輸料通道(11)的頂部固定連接有測試攝像頭(13)，所述測試攝像頭(13)的一端與輸料通道(11)的頂部固定穿插連接。
6.根據權利要求4所述的一種半導體元器件測試分揀設備，其特征在于，所述輸料通道(11)的一側固定連接有推料箱(14)，所述推料箱(14)的內腔固定安裝有氣缸(15)，所述氣缸(15)的輸出端固定連接有推料桿(16)，所述輸料通道(11)的另一側固定連接有廢料管(17)。
7.根據權利要求4所述的一種半導體元器件測試分揀設備，其特征在于，所述固定環(10)的一側固定連接有支撐柱(18)，所述支撐柱(18)的底部與工作臺(1)的頂部固定連接，所述輸料通道(11)的底部固定連接有支撐塊(19)，所述支撐塊(19)的底部與工作臺(
聲明：
“半導體元器件測試分揀設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究，如用于商業用途，請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)
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編輯：中冶有色網
來源：嘉興市揚佳科技合伙企業(有限合伙)
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2025年07月23日 ~ 26日 
