本發明涉及透射電子顯微鏡樣品制備技術領域,具體為一種自支撐薄膜類透射電鏡樣品及其制備方法。該薄膜類材料包括:利用物理和化學氣相沉積方法,例如磁控濺射沉積技術制備的自支撐金屬材料、非金屬材料、復合材料等。該方法包括:利用超薄的自支撐碳納米管薄膜作為基體,經過酒精處理后,使得原本蓬松的CNTs薄膜收縮,然后利用磁控濺射沉積技術制備所需材料薄膜(如前所述的金屬、非金屬、復合材料等),這層材料與采用傳統基底生長出來的薄膜的顯微結構和成分一致。最后將制備所得的材料直接進行離子減薄,獲得適合于透射電鏡觀察的樣品。該方法不僅工序簡單,還能提高實驗人員的效率和成功率,是一種非常簡單卻也行之有效的方法。
聲明:
“自支撐薄膜類透射電鏡樣品及其制備方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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