本發明提供了一種用于從基板去除污染金屬以改善電氣性能的方法。陽離子金屬已知對絕緣體或半導體基板的電氣性能是特別有害的。該方法包括將基板接觸下列結構式(1)的至少一種化合物的水性溶液:其中,n在每種情況中是獨立的0和6之間的整數值,X在每種情況中是獨立的H、NR4、鋰、鈉或鉀,以及至少一個X是NR4;R在每種情況中是獨立的H或C1-C6烷基,以改善基板的電氣性能。一種用于制備這種溶液的試劑盒包括1-20總重量百分比的結構式(I)的至少一種化合物的濃水劑。該試劑盒還提供了用于濃水劑稀釋以形成該溶液的操作指南。
聲明:
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