本發明提供一種硅質聚渣劑的X熒光光譜分析法,采用四硼酸鋰試劑作熔劑,在高溫下將試樣熔融成玻璃樣片,然后利用X熒光光譜儀繪制的國家標準樣品曲線分析其待測元素強度,從而計算出待測元素的百分含量。與化學分析方法相比,本發明方法程序簡化,手續簡單,試劑種類少,可降低檢測費用,凈化空氣質量,且標準曲線一次繪制完成后可多次使用;可縮短測定時間,每批試樣可節省分析時間3小時,極大提高分析效率;以儀器代替手工分析,可減少分析誤差,提高分析準確率,且干擾因素少,機體影響較小,穩定性好。
聲明:
“硅質聚渣劑的X熒光光譜分析法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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