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本發明公開一種存儲器測試方法、裝置、存儲器、設備及可讀存儲介質。所述方法包括：對存儲器中的各存儲單元進行保持時間測試，以分別獲得各所述存儲單元的保持時間；確定本次獲得的各所述存儲單元的保持時間是否不小于預設的時間規格；當各所述存儲單元的保持時間不小于所述時間規格時，統計已執行的保持時間測試的當前測試次數；當所述當前測試次數小于預設測試次數時，進入下一次所述保持時間測試。根據本發明提供的存儲器測試方法，可精確地檢測到失效存儲單元，增大了存儲器測試的覆蓋率，降低了后續封裝測試過程中存儲單元發生邊緣失效的風險，保證了存儲器的可靠性。
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本實用新型涉及鋰離子電池技術領域，具體地涉及一種動力電池熱失控監測系統，所述系統包括：電池控制器以及與所述電池控制器電連接的一個或多個相互串聯的熱失控監控板，各個熱失控監控板用于檢測不同的電池模組的熱失效，所述電池控制器用于對所述熱失效監控板進行斷路狀態檢測，以確定所述動力電池的熱失控。通過本實用新型，可以有效地識別動力電池的熱失控。
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本申請實施例提供一種字線測試方法及設備，在存儲陣列完成修補后，若該存儲陣列中存在處于失效狀態的目標字線，則在目標字線中寫入第二數值后，根據存儲陣列中各個字線輸出的數值，確定存儲陣列中是否存在至少兩個字線處于同時開啟狀態；若存儲陣列中存在至少兩個字線處于同時開啟狀態，則檢測目標字線從開啟到關閉過程中產生的電流值；當目標字線從開啟到關閉過程中產生的電流值大于預設電流閾值時，確定目標字線存在修補故障。本申請實施例提供的字線測試方法及設備，解決了現有技術中難以準確檢測出因修補故障而導致失效的字線的技術問題。
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本實用新型提供了一種存儲芯片測試電路裝置，第一存儲陣列輸出的第一測試數據通過第一壓縮電路進行壓縮，生成第一壓縮數據。第二存儲陣列輸出的第二測試數據通過第二壓縮電路進行壓縮，生成第二壓縮數據。利用第三壓縮電路對第一壓縮數據和第二壓縮數據進行再次壓縮，生成第三壓縮數據。不僅可以將生成的第一壓縮數據輸出，還可以通過多路復用器選擇輸出第二壓縮數據和第三壓縮數據中的一種。不僅能夠得到存儲芯片是否失效的檢測結論，還可以得到存儲芯片中第一存儲陣列以及第二存儲陣列失效的檢測結論，精確定位失效位置。測試機通過連接一個端口能夠得到存儲芯片以及存儲陣列的失效情況，提高了測試效率。
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本實用新型公開了一種氣固兩相流測速管,解決了固體顆粒會把測壓孔堵塞而失效影響速度測量的問題。其特征在于在全壓管頭部為直管彎至與軸線呈45度角后沿軸方向順管壁切去彎頭部的形狀,尾部加工成漸縮式燕尾槽形狀;靜壓管頭部為沿軸線垂直方向切齊后的形狀,尾部為加工成燕尾槽后再把直管彎曲成30-60度角的形狀。本實用新型可有效避免顆粒堵塞,結構簡單、實用,可適用于各行業中有關氣固兩相流的流量測量。
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本公開提供一種用于預測PMOS元件NBTI壽命的半導體元件測試方法與半導體元件測試系統。半導體元件測試方法包括：提供多個相同的PMOS元件；在預設溫度下對第n個所述PMOS元件的柵極多次施加時長不同的第n個預設負偏壓，以獲取多個預設負偏壓下多個施壓時長對應的所述PMOS元件的漏極飽和電流老化率；將多個所述漏極飽和電流老化率帶入預設方程以確定所述預設方程的擬合結果，獲取對應于施壓值和施壓時長的漏極飽和電流老化率變化曲線；根據所述漏極飽和電流老化率變化曲線確定所述PMOS元件在標準工作電壓下漏極飽和電流老化率達到預設失效值時對應的時間。本公開提供的半導體元件測試方法可以提高測試PMOS元件NBTI壽命的效率和準確度。
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一種芯片測試參數異常的偵測方法、存儲介質、終端，所述方法包括：獲取當前批次芯片的第一測試參數；根據所述第一測試參數計算所述當前批次芯片的邊緣芯片比例，其中，所述邊緣芯片比例為所述當前批次芯片中邊緣芯片的占比，所述邊緣芯片是所述第一測試參數的數值落入合格范圍但超出邊緣范圍的芯片；當所述邊緣芯片比例與基準邊緣芯片比例之差大于第一預設提示值時，確定偵測到芯片測試參數異常，其中，所述基準邊緣芯片比例與所述預設測試項相對應。通過本發明方案能夠實現對芯片測試參數異常的自動偵測和推送，以在實際出現Bin失效前，提前預警芯片可靠性問題以及生產工藝和測試環節可能存在的問題。
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一種智能防雷在線監測預警裝置。本發明采用雷電波形再現技術，通過羅氏線圈和雷電定位系統采集信息以及特定的邏輯運算實現了對雷電這種看得見摸不著的能量真正意義上的再現，并且本發明結構新穎，抗干擾能力強，能對自身采集來的數據及上傳來的數據進行智能分析，可實現直擊雷預警，對雷電進行預判，以及對故障隱患進行預警和告警，實現有效的在雷擊發生之前提前預警、雷電設施是否失效，達到提前介入、提前預案，減少不必要的損失和傷害；在雷擊發生時實現雷擊數據記錄，防雷措施是否有效監控，雷擊發生之后實現提供損壞位置，損壞原因數據輸出等，也為今后防雷措施的研究和調整做到有的放矢的打下了堅實基礎。
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本發明提供一種GOI測試電路結構，包括形成于一襯底內的多個呈條狀且平行設置的AA區，相鄰的AA區之間形成有STI，襯底上依次形成有柵氧化層、多晶硅柵極和多個計數結構，所有計數結構平行設置，每個計數結構對應設置在一個STI上方，每個計數結構靠近一個AA區設置，并用于對AA區中的熱點進行定位，可以實現電性測試熱點的清晰定位，并為物理剝層以及FIB切截面制備TEM樣品時提供熱點定位的標準，大大改善了GOI測試失效分析的效率，切中目標位置截面的成功率，還在制程上可實現性強，具有很高的實用價值。
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本發明提出的一種鋰離子電池殼體腐蝕的測試方法，包括以下步驟：S1、選取電池，在電池極柱上焊接極耳，然后將電池恒流恒壓充電至預設的滿電狀態，并測試電池的正負極電壓、負極與殼體電壓值；S2、將電池分為三組，分別進行不同負極殼體電壓分析試驗、同一負極電壓不同倍率充放電循環實驗和同一負極殼體電壓不同擱置溫度實驗；S3、根據實驗結果統計電池負極與殼體之間的安全電位，并統計不同的充放電倍率與溫度對電池殼體腐蝕的作用。本發明通過對選取的電池連接不同阻值的金屬膜電阻，使電池的負極殼體電壓處于不同梯度范圍，有效的模擬失效電池的狀態，準確的得出不同負極殼體電壓對電池腐蝕的影響，并測試環境溫度和充放電循環因素對腐蝕加速的影響。
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本發明公開了一種基于自振蕩回路的電路老化測試方法，其特征是：根據靜態時序分析和路徑間相關性，選取待測電路中的老化特征通路集合T；保持老化特征通路集合T中各條待測路徑上具有奇數次邏輯非，形成自振蕩的回路；采用固定型故障的測試生成方法，生成測試向量，激發自振蕩回路，產生測試電平信號；通過計數器采樣自振蕩回路，獲取電路老化特征值，度量待測電路老化程度。本發明可以以較低的功耗精確度量電路的老化程度，為電路老化失效防護提供準確的依據。
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本實用新型提供了一種電容測試結構，包括：固定測試電阻，與待測電容第二端連接；至少一個待接入測試電阻，與固定測試電阻串聯；至少一個測試保險絲，與待接入測試電阻并聯；至少兩個焊盤，分別與測試保險絲兩端連接；NMOS管，與所述測試電路并聯，所述NMOS管的柵極還與待測電容的第二端連接；限流保險絲，與并聯后的所述NMOS管和所述測試電路串聯，并且接地；以及，限流電阻，連接電源和所述NMOS管；向焊盤施加電流，使得與焊盤連接的測試保險絲熔斷以改變測試電路的阻值。在不改變版圖設計的情況下，可以變換為多種漏電閾值電流的測試結構，從而對多種不同缺陷或不同類型的待測電容進行失效分析。這樣可以節省芯片劃片道面積，在測試上也更加靈活。
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本發明公開了一種測試超高壓管式反應器熱套端部結構局部應力場的方法，其特征是設置存在有過盈量的反應管與夾套構件；首先將夾套與反應管利用溫差法完成裝配；再在反應管外側壁上，位于夾套與反應管相套合的邊緣的外側測點上粘貼電阻應變片；最后采用切割機具將夾套從反應管上剝除，釋放反應管上的應力，記錄夾套剝除前后各測點上的應變變化，利用應變變化通過計算獲得的局部應力場數據。本發明可用于準確獲取超高壓管式反應器熱套端部結構局部應力場數據，為分析超高壓聚乙烯管式反應器端部斷裂失效原因和基于失效的設計提供參考依據。
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本發明提供的直流源保護裝置的自檢方法及裝置，首先判斷當前狀態是否滿足自檢預設條件；若滿足，則使能直流源保護裝置對其輸出電壓進行輸出限制，并將限制輸出標志位置1；延時第一預設時長后，判斷當前直流源保護裝置的輸出電壓是否小于預設限制值；若當前直流源保護裝置的輸出電壓小于預設限制值，則判斷直流源保護裝置正常；若當前直流源保護裝置的輸出電壓大于等于預設限制值，則判斷直流源保護裝置失效，并輸出報警信號；最終實現了對于直流源保護裝置的自檢；且直流源保護裝置位于用電設備的外部時，通過上述方法同樣能夠實現對于直流源保護裝置的自檢，解決了現有技術的問題。
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本申請公開了一種異常溫度測試數據的確定方法、裝置及電子設備，屬于半導體生產檢測技術領域，其中，異常溫度測試數據的確定方法包括：獲取晶圓連續測試過程中的夾具溫度數據；根據所述夾具溫度數據計算相鄰兩次測試的夾具溫度變化值；基于所述溫度變化值確定異常溫度測試數據。該方法可以準確地確定異常的夾具溫度測試數據，進而可以剔除溫度異常的測試項使得晶圓的壽命失效率分析更加準確。
本申請公開了一種基于馬爾科夫鏈的實驗室用電測量設備測試策略評價方法、電子設備及存儲介質，屬于電測量設備智能檢測技術領域。為了解決如何從真實的檢測環境中挖掘出未知類型的檢測步驟的問題，本申請利用馬爾科夫鏈生成隨機測試鏈，采用公共子串和公共子序列構建電測量設備新產品的被激活的測試策略片段，經組合后形成可執行的測試策略，從而模擬應對未知類型的檢測步驟場景，從真實的檢測環境中，挖掘出未知類型的檢測步驟，能夠更有效地發現并消除軟件運行缺陷，滿足用戶的使用需求，實行測試方案以檢測電測量設備在工作過程中發現失效故障，最終使電測量設備的可靠性得到持續提高。
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本發明公開了一種在線監測三電平逆變器中功率開關器件的系統及方法。該系統及方法包括：通過對NPC逆變器中電流流通路徑判斷出三相橋臂中十二個功率開關器件的開關狀態，在每周期內微調PWM波形，以供選擇合適測量時間段，在正常工況下進行檢測工作；外部輔助電源單元，在上述檢測時段內對被測器件注入兩種幅值的電流，同時數據采集單元分別測得IGBT功率器件和其反并聯二極管通態壓降；分析可靠性單元將測得電壓作為溫敏電氣參數，生成導通壓降和結溫關系圖作校準曲線，將獲得的結溫和通態壓降做成基準查閱表。在線監測高電流下器件導通壓降增幅超過閾值，即可認定該IGBT器件內部發生鍵合引線失效。依次獲取各器件健康狀態，得到整個逆變器可靠性檢測結果。
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本發明提供了一種存儲芯片測試電路裝置以及方法，第一存儲陣列輸出的第一測試數據通過第一壓縮電路進行壓縮，生成第一壓縮數據。第二存儲陣列輸出的第二測試數據通過第二壓縮電路進行壓縮，生成第二壓縮數據。利用第三壓縮電路對第一壓縮數據和第二壓縮數據進行再次壓縮，生成第三壓縮數據。不僅可以將生成的第一壓縮數據輸出，還可以通過多路復用器選擇輸出第二壓縮數據和第三壓縮數據中的一種。不僅能夠得到存儲芯片是否失效的檢測結論，還可以得到存儲芯片中第一存儲陣列以及第二存儲陣列失效的檢測結論，精確定位失效位置。測試機通過連接一個端口能夠得到存儲芯片以及存儲陣列的失效情況，提高了測試效率。
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本申請涉及一種針測卡異常判斷方法及裝置。針測卡異常判斷方法通過獲取各量測單元中在相同測試位置的芯片的單元失效率，并判斷各量測單元在相同測試位置的芯片的單元失效率是否分別滿足第一異常條件。若各量測單元在相同測試位置的芯片的單元失效率滿足第一異常條件，則判斷滿足第一異常條件的各量測單元之間的測試順序是否滿足第二異常條件。若滿足第一異常條件的各量測單元之間的測試順序滿足第二異常條件，則判定針測卡異常。上述針測卡異常判斷方法可以結合各量測單元中在相同測試位置的單元失效率以及第一異常條件和第二異常條件，實現對針測卡的異常情況的監控和分析，從而可以及時對針測卡進行檢修，減少因測試不良導致的良率損失。
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本發明實施例提供一種機臺插槽的異常偵測方法、修復方法和異常偵測系統。機臺包括多個插槽，插槽用于檢測芯片，異常偵測方法包括：獲取第一失效率，第一失效率為過去的第一時間段內每一插槽檢測的芯片的失效率；根據所有第一失效率，計算異常值；獲取第二失效率，第二失效率為過去的第二時間段內的每一插槽檢測的芯片的失效率；第二時間段小于第一時間段，且第二時間段在第一時間段內；將第二失效率大于或等于異常值的插槽標記為目標插槽，將第二失效率小于異常值的插槽標記為對照插槽；檢驗第二時間段內每一天的目標插槽與對照插槽的失效率的差異的顯著性程度。本發明實施例能夠減小在偵測異常插槽時出現的誤差。
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本發明公開了一種介質層可靠性測試結構及測試方法，屬于半導體技術領域，所述介質層可靠性測試結構包括：襯底，其上設置多個有源區；至少一個待測試介質層，設置在所述有源區上；多晶硅層，設置在所述待測試介質層上；輔助金屬結構，設置在所述多晶硅層上，且所述輔助金屬結構將所述多晶硅層區分為多種不規則的區域；以及輔助多晶硅結構，設置在所述襯底上，且環繞所述多晶硅層設置。通過本發明提供的一種介質層可靠性測試結構及測試方法，可提高失效分析的準確率和效率。
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本發明提供一種電力變換裝置及其功率半導體器件健康狀態自檢方法，該方法，包括：在待測功率半導體器件所在的模塊滿足健康狀態檢測條件時，獲取待測功率半導體器件的結溫，然后驅動待測功率半導體器件導通，并控制待測功率半導體器件流過檢測電流，同時檢測待測功率半導體器件的導通壓降，得到導通壓降的檢測值；若導通壓降的檢測值與導通壓降的理論值之間的差值大于等于閾值，則判定待測功率半導體器件出現封裝失效現象；進而實現了對于待測功率半導體器件的健康狀態自檢測，避免了功率半導體器件發生封裝失效現象所造成的IGBT器件的故障運行和整機運行崩潰的問題。
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一種根據設備風險等級確定設備檢驗周期的方法，S1、確認待檢設備是否進行過首檢，若沒有則進行首檢，若進行了首檢，則轉入S2；S2、通過以下公式確定待檢設備各個部件的檢驗周期修正系數ai＝FRi×FCi×FM×FL；S3、確認待檢設備的腐蝕機理，并計算待檢設備的合理檢驗周期；本發明的有益效果是：根據API581標準對設備開展風險評估，評估結果包括管理水平分值、設備各個部件失效概率及失效后果、設備損傷(應力腐蝕開裂、高溫氫損傷)敏感性等，結合設備的檢驗檢測結果制定設備合理的檢驗周期。
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本發明公開了絕緣子自動涂膠和視覺檢測專機，包括工作臺以及支架，支架的下端設有液壓桿，液壓桿下端設有夾爪，絕緣子通過夾爪夾取，工作臺上設有噴膠機，噴膠機設有噴嘴，絕緣子通過噴嘴上膠，工作臺上端放置有基板，夾爪的爪臂上方設有連接塊，連接塊的下端開設有一號凹槽，一號凹槽內固接有微型電機，微型電機的輸出端與夾爪的爪臂連接，連接塊的上端固接有卡塊，液壓桿的下端固接有水平板，水平板下端的一對稱側壁均固接有縱板，縱板的下端內壁均固接有凸條，水平板、縱板以及凸條之間形成卡槽，卡塊與卡槽配合。本發明可以提高絕緣子在與基板孔膠結過程中的工作效率以及工作可靠性，并降低了產品的失效概率。
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本發明涉及線路在線絕緣檢測裝置的絕緣子，其材料成分以重量份計，配方由如下組分組成：氧化鋁3-7份、耐蝕樹脂10-26份、氧化鈉2-3份、硫酸鋇粉4-7份、氧化鉀2-4份、氧化鋇6-9份、氫氧化鎂4-9份、二氧化硅3-12份、氫氧化鋁4-6份、氧化鐵粉末4-9份、納米氧化鋅2-8份和白剛玉3-5份。本發明不會由于環境和電負荷條件發生變化而導致各種機電應力而失效的現象發生，從而延長整條線路的使用和運行壽命。
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本申請公開了一種多輸入Boost電路及其故障檢測方法，以避免因上管或下管關斷失效造成母線電容過壓擊穿。該方法包括：判斷多輸入Boost電路輸出的正、負母線電容電壓之差的絕對值|VC1?VC2|是否大于第一閾值，若是，控制各路對稱Boost電路直通并且對后級電路進行處理，所述處理為封波處理或者斷開與后級電路的連接。
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本發明公開了一種用于自動擋汽車的車速方向檢測方法，在自動擋汽車上，換擋桿屬于基本標配，同時考慮安全性ABS系統也是作為法規要求的強制配置項，因此可以在不增加任何成本前提下，即摒棄添加額外的轉速傳感器的前提下，僅由換擋桿位置信號、車速信號以及ABS的輪速傳感器提供的輪速方向信號，便可以可靠、精確地判定出當前車速方向，進而可以萬無一失地確定出車輛的運行方向，并由此進行選擋及扭矩匹配等基本的車輛控制。本發明可以顯著降低額外硬件產生的成本，并能夠有效解決輪速方向信號中的一個或多個失效后車輛無法判斷車速方向的問題，同時也可以避免在陡坡或冰雪路面由于車輪打滑出現的車速方向誤診斷的問題。
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本發明公開了一種基于邊緣檢測誤差擴散算法的潛像邊界改進方法，包括如下步驟：步驟(1)、輸入目標圖像并分色；步驟(2)、調幅加網；步驟(3)、得到隱藏信息的潛像；步驟(4)、在隱形通道的半色調圖中調整潛像邊界和內部的網點，包括一次調整和二次調整；合成得到嵌入有隱藏信息的目標圖像的半色調圖。本發明采用潛像邊界上網點的差值動態的獲得誤差分散系數，按照系數量化灰度值的誤差并向周圍的網點分散處理，將隱藏信息的輪廓特征和誤差的分散聯系在一起，可以有效的改善隱藏信息輪廓顯現導致防偽失效的問題。
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本實用新型屬于電子控制技術領域，提供了一種電池密封性檢測系統，包括：電源、壓力傳感器、處理器、存儲器和提示器，其中，壓力傳感器、存儲器和提示器分別與處理器相連，電源分別為壓力傳感器、處理器和存儲器供電。由于壓力傳感器設置在待測電池的上殼體和下殼體之間，可以采集上殼體和下殼體之間的壓力信息，處理器可以將接收的壓力信息轉換為壓力值，然后根據壓力值及失效壓力閾值判斷電池密封性是否合格，如果否，則控制提示器進行提示。這樣就使得本實用新型可以實時在線監控電池系統的密封性。
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2025年08月07日 ~ 09日 
